瑞凱溫度循環(huán)試驗箱-讓電子產(chǎn)品環(huán)境使用適能力更可靠
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來源：
www.yntbf.com
發(fā)布日期： 2021.06.23
隨著消費電子和汽車電子的蓬勃發(fā)展，5G也迎來了商用熱潮，電子技術的升級以及電子產(chǎn)品的復雜程度在不斷增加，加上電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴酷，元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)很難確保在一定時間內、在一定條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。因此，為了確認電子產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標、行標都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測試項目。
比如高低溫循環(huán)測試
高低溫循環(huán)測試是指設定溫度從-50℃保持4個小時后，升溫到 +90℃，然后，在+90℃保持4個小時，降溫到-50℃，依次做N個循環(huán)。
工業(yè)級溫度標準為-40℃
~ +85℃，因為溫度循環(huán)試驗箱通常會存在溫差，為保證到客戶端不會因為溫度偏差導致測試結果不一致，內部測試建議使用標準溫度±5℃溫差來測試。
測試流程：
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個小時；請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4、升溫到+90℃，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。
參考標準：
GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法等。
除了高低溫循環(huán)測試，電子產(chǎn)品還可能做的可靠性測試有恒溫恒濕測試(Temperature
And Humidity test)、交變濕熱測試（Damp Heat, Cyclic test）、低溫存儲測試 (Low Temperature Storage test)、高溫存儲測試 (High Temperature Storage test)、高低溫沖擊測試(thermal shock test)、鹽霧測試（Salt Spray Test）、振動測試隨機/正弦(Vibration test)、包裝箱自由跌落測試(Drop test)、蒸氣老化測試(Steam Aging test)、IP等級防護測試（IP
Test)、LED光衰壽命測試及認證（LED LM80 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources）等，根據(jù)廠商對產(chǎn)品的測試要求選擇。
瑞凱儀器研發(fā)、生產(chǎn)的溫度循環(huán)試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、三綜合試驗箱、鹽霧試驗箱等為電子產(chǎn)品的可靠性測試提供了解決方案，通過模擬自然環(huán)境中的溫度、濕度、海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等，可以提前判斷產(chǎn)品適用的可靠度、失效率、平均無故障間隔。
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